Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография = High resolution x-ray diffractometry and topography /

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ: Боуэн, Д.К
Այլ հեղինակներ: Таннер, Б.К, Шульпина, И.Л (Խմբագիր, Թարգմանիչ, ред., пер, пер.), Аргунова, Т.С (Թարգմանիչ, пер.)
Ձևաչափ: Գիրք
Լեզու:Russian
Հրապարակվել է: Санкт-Петербург : Наука, 2002.
Խորագրեր:
Электронная техника
Кристаллофизика
Радиотехнические материалы и изделия > Полупроводниковые материалы > Исследования > Рентгеновские методы исследований
Анализ эпитаксиальных слоев
Анализ тонких пленок и многослойных систем
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
Եղիր առաջինը, ով թողնում է մեկնաբանություն!
Դուք նախ պետք է մուտք գործեք

Նմանատիպ նյութեր