Բեռնվում է…

Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография = High resolution x-ray diffractometry and topography /

Պահպանված է:

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ:	Боуэн, Д.К
Այլ հեղինակներ:	Таннер, Б.К, Шульпина, И.Л (Խմբագիր, Թարգմանիչ, ред., пер, пер.), Аргунова, Т.С (Թարգմանիչ, пер.)
Ձևաչափ:	Գիրք
Լեզու:	Russian
Հրապարակվել է:	Санкт-Петербург : Наука, 2002.
Խորագրեր:	Электронная техника Кристаллофизика Радиотехнические материалы и изделия > Полупроводниковые материалы > Исследования > Рентгеновские методы исследований Анализ эпитаксиальных слоев Анализ тонких пленок и многослойных систем
Ցուցիչներ:	Ավելացրեք ցուցիչ Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!

Պահումների մանրամասները Fundamental Scientific Library: Unknown
Դասիչ:	621.38
Պատճեն Unknown	Հասանելի է Տեղադրեք պահում

Նմանատիպ նյութեր