Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография = High resolution x-ray diffractometry and topography /

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ: Боуэн, Д.К
Այլ հեղինակներ: Таннер, Б.К, Шульпина, И.Л (Խմբագիր, Թարգմանիչ, ред., пер, пер.), Аргунова, Т.С (Թարգմանիչ, пер.)
Ձևաչափ: Գիրք
Լեզու:Russian
Հրապարակվել է: Санкт-Петербург : Наука, 2002.
Խորագրեր:
Электронная техника
Кристаллофизика
Радиотехнические материалы и изделия > Полупроводниковые материалы > Исследования > Рентгеновские методы исследований
Анализ эпитаксиальных слоев
Анализ тонких пленок и многослойных систем
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
LEADER 01587nam a2200301 u 4500
001 000263319
003 AM-YeHGA
005 20210831123105.0
008 030918s2002 ||| r 000 0 rus d
020 |a 5020249637 
040 |a AM-YEHGA  |c AM-YEHGA 
100 1 |a Боуэн, Д.К. 
245 1 0 |a Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография =  |b High resolution x-ray diffractometry and topography /  |c Д.К. Боуэн, Б.К. Таннер ; Отв. ред.: И.Л. Шульпина ; Пер. с англ. И.Л. Шульпиной, Т.С. Аргуновой. 
246 3 1 |a High resolution x-ray diffractometry and topography 
260 |a Санкт-Петербург :  |b Наука,  |c 2002. 
300 |a 273 с.  |b ил. 
504 |a Библиогр. в конце гл. 
650 1 4 |a Электронная техника 
650 1 4 |a Кристаллофизика 
650 1 4 |a Радиотехнические материалы и изделия  |x Полупроводниковые материалы  |x Исследования  |x Рентгеновские методы исследований 
653 0 |a Анализ эпитаксиальных слоев 
653 0 |a Анализ тонких пленок и многослойных систем 
700 1 |a Таннер, Б.К. 
700 1 |a Шульпина, И.Л.  |e ред.  |4 edt  |e пер  |4 trl 
700 1 |a Шульпина, И.Л.  |e пер.  |4 trl 
700 1 |a Аргунова, Т.С.  |e пер.  |4 trl 
999 |c 96764 
952 |o 621.38  |p 120649677 

Նմանատիպ նյութեր