VLSI testing /

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Այլ հեղինակներ: Williams, T. W., 1943- (Խմբագիր)
Ձևաչափ: Գիրք
Լեզու:English
Հրապարակվել է: Amsterdam ; New York : New York, N.Y., U.S.A. : North-Holland ; Sole distributors for the U.S.A. and Canada, Elsevier Science Publ. Co., 1986.
Շարք:Advances in CAD for VLSI Vol. 5
Խորագրեր:
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing.
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!

Fundamental Scientific Library: Unknown

Պահումների մանրամասները Fundamental Scientific Library: Unknown
Դասիչ: Gulb/7050
Պատճեն Unknown Հասանելի է  Տեղադրեք պահում

Նմանատիպ նյութեր