Normal view MARC view ISBD view

Электронная микроскопия тонких кристаллов : Пер. с англ. / П. Хирш, А. Хови, Р. Николсон и др. ; Под ред. Л.М. Утевского.

Contributor(s):

Material type:

TextLanguage: Russian Original language: English Publication details: Москва : Мир, 1968.Description: 574 с. : илSubject(s):

Average rating: 0.0 (0 votes)

Holdings
Cover image	Item type	Current library	Home library	Collection	Shelving location	Call number	Materials specified	Vol info	URL	Copy number	Status	Notes	Date due	Barcode	Item holds	Item hold queue priority	Course reserves
	Գրքեր / Books	Fundamental Scientific Library		General		PIII/27270 (Browse shelf(Opens below))					Available	30 Days Loan		FL0488449
	Գրքեր / Books	Fundamental Scientific Library		General		PIII/27271 (Browse shelf(Opens below))					Available	30 Days Loan		FL0488450

Browsing Fundamental Scientific Library shelves,Collection: General Close shelf browser (Hides shelf browser)

Previous								Next
Previous	PIII/27268 Электрические машины : Учебник для вузов : В 3-х частях /	PIII/2727 Основные типы синтаксических словосочетаний в современном финском языке /	PIII/27270 Электронная микроскопия тонких кристаллов : Пер. с англ. /	PIII/27271 Электронная микроскопия тонких кристаллов : Пер. с англ. /	PIII/27272 Телефонные аппараты АТС /	PIII/27273 Ботаника с основами общей биологии : Учебное пособие /	PIII/27274 Фотохимия /	Next

There are no comments on this title.

to post a comment.

Back to results