Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ : В 2-х кн. /

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Այլ հեղինակներ: Гоулдстейн, Джозеф, Ньюбери, Дэйл, Эчлин, Патрик, Петров, В.И (Խմբագիր, ред.), Гвоздовер, Р.С (Թարգմանիչ, пер.), Комолова, Л.Ф (Թարգմանիչ, пер.)
Ձևաչափ: Գիրք
Լեզու:Russian
Հրապարակվել է: Москва : Мир, 1984.
Խորագրեր:
Микроскопия электронная
Рентгеновская флюоресцентная спектрометрия
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
LEADER 01557nam a2200289 u 4500
001 000239205
003 AM-YeHGA
005 20210831121540.0
008 030624s1984 ai r 000 0 rus d
040 |a AM-YEHGA  |c AM-YeHGA 
245 0 0 |a Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ :  |b В 2-х кн. /  |c [Дж. Гоулдстейн, Д. Ньюбери, П. Эчлин [и др.]] ; пер. с англ. Р.С. Гвоздовер, Л.Ф. Комоловой ; под ред. В.И. Петрова. 
260 |a Москва :  |b Мир,  |c 1984. 
300 |a Кн. ;  |c 22 см. 
505 0 |g Кн. 1 (1984, 304 с., ил., табл.)  |g Кн. 2 (1984, 348 с. : ил., табл. ; Библиогр.: с. 318-341 ; Предм. указ.: с. 342-346) 
534 |p Оригинал на англ.:  |t Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis  |a J.I. [etc] Goldstein. -  |c New York; London, 1981 
650 1 4 |a Микроскопия электронная 
650 1 4 |a Рентгеновская флюоресцентная спектрометрия 
700 1 |a Гоулдстейн, Джозеф 
700 1 |a Ньюбери, Дэйл 
700 1 |a Эчлин, Патрик 
700 1 |a Петров, В.И.  |e ред.  |4 edt 
700 1 |a Гвоздовер, Р.С.  |e пер.  |4 trl 
700 1 |a Комолова, Л.Ф.  |e пер.  |4 trl 
999 |c 85963 
952 |h Кн. 1  |o PII/523487  |p FL0184752 
952 |h Кн. 2  |o PII/523488  |p FL0184753 
952 |h Кн. 2  |o PII/523601  |p FL0184515 

Նմանատիպ նյութեր