Эллипсометрия - метод исследования поверхности /

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Համատեղ հեղինակ: Ин-т физики полупроводников СО АН СССР
Այլ հեղինակներ: Ржанов, А.В (Խմբագիր)
Ձևաչափ: Գիրք
Հրապարակվել է: Новосибирск : Наука. Сиб. отд-ние , 1983.
Խորագրեր:
Физика
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
LEADER 00777-am-a2200193-a-4500
001 000213337
003 AM-YeHGA
005 20210831120050.0
008 001217s1983 xxu 000 0 rus u
020 |c 3.00 
040 |a AM-YEHGA  |c AM-YEHGA 
245 0 0 |a Эллипсометрия - метод исследования поверхности /  |c АН СССР. Сибирское отд-е. Ин-т физики полупроводников ; Отв. ред. А.В. Ржанов. 
260 |a Новосибирск :  |b Наука. Сиб. отд-ние ,  |c 1983. 
300 |a 180 с. 
650 4 |a Физика 
700 1 0 |a Ржанов, А.В.  |4 edt 
710 2 |a Ин-т физики полупроводников СО АН СССР 
999 |c 75821 
952 |o PIII/51604  |p FL0400504 

Նմանատիպ նյութեր