Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев /

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ: Афанасьев, Александр Михайлович
Այլ հեղինակներ: Александров, Петр Анатольевич, Имамов, Рафик Мамедович
Ձևաչափ: Գիրք
Լեզու:Russian
Հրապարակվել է: Москва : Наука. Гл. ред. физ.-мат. лит., 1989.
Խորագրեր:
Рентгеновские лучи > Дифракция на кристаллах
Рентгеноструктурный анализ
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
LEADER 01097nam a2200265 u 4500
001 000165920
003 AM-YeHGA
005 20230704141023.0
008 950417s1989 ru ||||gr|||||||||0|rus|d
020 |a 5020140201 
040 |a AM-YEHGA  |c AM-YeHGA 
041 0 |a rus 
100 1 |a Афанасьев, Александр Михайлович 
245 1 0 |a Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоев /  |c А.М. Афанасьев, П.А. Александров, Р.М. Имамов. 
260 |a Москва :  |b Наука. Гл. ред. физ.-мат. лит.,  |c 1989. 
300 |a 151 с. ;  |c 22 см. 
504 |a Библиогр.: с. 146-151 
650 1 4 |a Рентгеновские лучи  |x Дифракция на кристаллах 
650 1 4 |a Рентгеноструктурный анализ 
700 1 |a Александров, Петр Анатольевич 
700 1 |a Имамов, Рафик Мамедович 
942 |c BK 
999 |c 57864 
952 |o PII/609830  |p 120609830 
952 |o PII/616854  |p 120616854 

Նմանատիպ նյութեր