Բեռնվում է…

Моделирование на ЭВМ дефектов в кристаллах : Материалы Всесоюзного постоянного семинара по моделированию радиационных и других дефектов на ЭВМ /

Պահպանված է:

Մատենագիտական մանրամասներ
Համատեղ հեղինակ:	Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе
Այլ հեղինակներ:	Орлов, А.Н, Трушин, Ю.В
Ձևաչափ:	Գիրք
Լեզու:	Russian
Հրապարակվել է:	Ленинград : ЛИЯФ, 1979.
Խորագրեր:	ЭВМ
Ցուցիչներ:	Ավելացրեք ցուցիչ Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!

Նմանատիպ նյութեր