Моделирование на ЭВМ дефектов в кристаллах : Материалы Всесоюзного постоянного семинара по моделированию радиационных и других дефектов на ЭВМ /

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Համատեղ հեղինակ: Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе
Այլ հեղինակներ: Орлов, А.Н, Трушин, Ю.В
Ձևաչափ: Գիրք
Լեզու:Russian
Հրապարակվել է: Ленинград : ЛИЯФ, 1979.
Խորագրեր:
ЭВМ
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
LEADER 01060nam a2200241 a 4500
001 000125674
003 AM-YEHGA
005 20240827011315.0
008 950720s1979 ru ||||gr|||||||||0|rus|d
020
040 |a AM-YEHGA  |c AM-YeHGA 
041 0 |a rus 
245 0 0 |a Моделирование на ЭВМ дефектов в кристаллах :  |b Материалы Всесоюзного постоянного семинара по моделированию радиационных и других дефектов на ЭВМ /  |c Предисл. А.Н. Орлова, Ю.В. Трушина ; АН СССР, Физико-технический ин-т им. А.Ф. Иоффе АН ССС. 
260 |a Ленинград :  |b ЛИЯФ,  |c 1979. 
300 |a 205 с. ;  |c 21 см. 
650 1 4 |a ЭВМ 
700 1 0 |a Орлов, А.Н. 
700 1 |a Трушин, Ю.В. 
710 2 |a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе 
942 |c BK 
999 |c 42367 
952 |o PII/446050  |p FL0354021 
952 |o PII/451619  |p FL0339724 

Նմանատիպ նյութեր