Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках /

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ: Александров, Леонид Наумович
Համատեղ հեղինակ: Ин-т физики полупроводников СО АН СССР
Այլ հեղինակներ: Зотов, Михаил Иванович, Смирнов, Л.С (Խմբագիր)
Ձևաչափ: Գիրք
Հրապարակվել է: Новосибирск : Наука. Сиб. отд-ние , 1979.
Խորագրեր:
Электричество
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
LEADER 00967nam-a2200217-a-4500
001 YSU0053959
003 AM-YeHGA
005 20220704184740.0
008 001204s1979 xxu 000 0 rus u
020 |c 01.00 
040 |a AM-YEHGA  |c AM-YeHGA 
100 1 0 |a Александров, Леонид Наумович 
245 1 0 |a Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках /  |c Л.Н. Александров, М.И. Зотов ; Отв. ред. Л.С. Смирнов ; АН СССР. Сиб. отд-ние. Ин-т физики полупроводников 
260 0 |a Новосибирск :  |b Наука. Сиб. отд-ние ,  |c 1979. 
300 |a 159 с. 
650 4 |a Электричество 
700 1 |a Зотов, Михаил Иванович 
700 1 |a Смирнов, Л.С.  |4 edt 
710 2 |a Ин-т физики полупроводников СО АН СССР 
999 |c 395095 
952 |o PII/444311  |p FL0464188 

Նմանատիպ նյութեր