Բեռնվում է…
Исследование влияния вторичного пробоя на надежность транзисторных ключей схем выборки ЗУ : Доклад на конференции молодых специалистов и ученых Ин-та точной механики и вычисл. техники АН СССР им. С. А. Лебедева /
Պահպանված է:
| Հիմնական հեղինակ: | |
|---|---|
| Համատեղ հեղինակ: | |
| Այլ հեղինակներ: | |
| Ձևաչափ: | Գիրք |
| Լեզու: | Russian |
| Հրապարակվել է: |
Москва :
Б. и.,
1976.
|
| Խորագրեր: | |
| Ցուցիչներ: |
Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|
| LEADER | 01267nam a2200217 a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 001107686 | ||
| 003 | AM-YeHGA | ||
| 005 | 20220704110423.0 | ||
| 008 | 151022s1976 ||| r 000 0 rus d | ||
| 040 | |a AM-YEHGA |c AM-YeHGA | ||
| 041 | 0 | |a rus | |
| 100 | 1 | |a Абрукин, Я. А. | |
| 245 | 1 | 0 | |a Исследование влияния вторичного пробоя на надежность транзисторных ключей схем выборки ЗУ : |b Доклад на конференции молодых специалистов и ученых Ин-та точной механики и вычисл. техники АН СССР им. С. А. Лебедева / |c Я.А. Абрукин, Г.В. Кристовский; АН СССР. Ин-т точной механики и вычисл. техники им. С.Л. Лебедева. |
| 260 | |a Москва : |b Б. и., |c 1976. | ||
| 300 | |a 17 с. : |b ил. | ||
| 504 | |a Библиогр.: с. 17 | ||
| 653 | 0 | |a Запоминающие устройства | |
| 700 | 1 | |a Кристовский, Г.В. | |
| 710 | 2 | |a Институт точной механики и вычислительной техники им. С.Л. Лебедева АН СССР | |
| 999 | |c 358655 | ||
| 952 | |o PII/381663 |p FL0361328 | ||