Основы теории и общие методы патентной экспертизы /

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Համատեղ հեղինակ: Центральный институт повышения квалификации руководящих работников и специалистов народного хозяйства в области патентной работы
Այլ հեղինակներ: Кичкин, И. И., Мадатов, Н. М., Анисов, Г. Н., Скорняков, Э. П., Бакастов, В. Н. (Խմբագիր, ред.)
Ձևաչափ: Գիրք
Լեզու:Russian
Հրապարակվել է: Москва : Б. и.
Խորագրեր:
Патентная экспертиза
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
LEADER 01435nam a2200265 a 4500
001 000865045
003 AM-YeHGA
005 20220630152224.0
008 120206s ru r 000 0 rus d
040 |a AM-YEHGA  |c AM-YeHGA 
041 0 |a rus 
245 0 0 |a Основы теории и общие методы патентной экспертизы /  |c Г. Н. Анисов, И. И. Кичкин, Н. М. Мадатов, Э. П. Скорняков; Центр. ин-т повышения квалификации руководящих работников и специалистов народного хозяйства в области патентной работы; Под ред. В. Н. Бакастова. 
260 |a Москва :  |b Б. и. 
300 |a выпуск. 
505 1 0 |g Вып. 2 (1973, 40 с.) 
653 0 |a Патентная экспертиза 
700 1 |a Кичкин, И. И. 
700 1 |a Мадатов, Н. М. 
700 1 |a Анисов, Г. Н. 
700 1 |a Скорняков, Э. П. 
700 1 |a Бакастов, В. Н.  |e ред.  |4 edt 
710 2 |a Центральный институт повышения квалификации руководящих работников и специалистов народного хозяйства в области патентной работы 
999 |c 308467 
952 |h Вып. 2  |o PII/313795  |p FL0217669 
952 |o PII/318816  |p FL0232082 

Նմանատիպ նյութեր