Բեռնվում է…

Методы и оборудование контроля интегральных микросхем высокой функциональной сложности : Сборник научных трудов /

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Համատեղ հեղինակ: Московский институт электронной техники
Այլ հեղինակներ: Дубовой, Н. Д. (Խմբագիր, ред.)
Ձևաչափ: Գիրք
Լեզու:Russian
Հրապարակվել է: Москва : МИЭТ, 1982 (вып. дан. 1983).
Խորագրեր:
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
LEADER 01048nam a2200205 a 4500
001 000843003
003 AM-YEHGA
005 20220630142334.0
008 111102s19821983ru r 000 0 rus d
040 |a AM-YEHGA  |c AM-YeHGA 
041 0 |a rus 
245 0 0 |a Методы и оборудование контроля интегральных микросхем высокой функциональной сложности :  |b Сборник научных трудов /  |c Моск. ин-т электрон. техники; [Редкол.: Н. Д. Дубовой (отв. ред.) и др.]. 
260 |a Москва :  |b МИЭТ,  |c 1982 (вып. дан. 1983). 
300 |a 117 с. :  |b ил. 
504 |a Библиогр. в конце ст. 
653 0 |a Микроэлектронные схемы интегральные - Контроль - Сборники 
700 1 |a Дубовой, Н. Д.  |e ред.  |4 edt 
710 2 |a Московский институт электронной техники 
999 |c 303988 
952 |l 0  |o PII/512284  |p FL0210138