Բեռնվում է…

Mikroskopia sił atomowych (AFM)-biomedyczne zastosowanie pomiarow w nanoskali /

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ: Kopaczynska, Marta
Ձևաչափ: Գիրք
Լեզու:Polish
Հրապարակվել է: Wrocław : Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 2010.
Խորագրեր:
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
LEADER 00648nam a2200205 u 4500
001 000784476
003 AM-YeHGA
005 20210831173402.0
008 110124s2010 pl r 000 0 pol d
020 |a 9788374935142 
040 |a AM-YeHGA  |c AM-YeHGA 
041 0 |a pol 
100 1 |a Kopaczynska, Marta 
245 1 0 |a Mikroskopia sił atomowych (AFM)-biomedyczne zastosowanie pomiarow w nanoskali /  |c Marta Kopaczynska. 
260 |a Wrocław :  |b Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej,  |c 2010. 
300 |a 117 p. :  |b ill., tabs. 
504 |a Bibliogr.: p. 103-112 
650 1 4 |a Atomic force microscopy 
999 |c 288434 
952 |o И II/114496  |p FL0176649