Բեռնվում է…
Mikroskopia sił atomowych (AFM)-biomedyczne zastosowanie pomiarow w nanoskali /
Պահպանված է:
Հիմնական հեղինակ: | |
---|---|
Ձևաչափ: | Գիրք |
Լեզու: | Polish |
Հրապարակվել է: |
Wrocław :
Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej,
2010.
|
Խորագրեր: | |
Ցուցիչներ: |
Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|
LEADER | 00648nam a2200205 u 4500 | ||
---|---|---|---|
001 | 000784476 | ||
003 | AM-YeHGA | ||
005 | 20210831173402.0 | ||
008 | 110124s2010 pl r 000 0 pol d | ||
020 | |a 9788374935142 | ||
040 | |a AM-YeHGA |c AM-YeHGA | ||
041 | 0 | |a pol | |
100 | 1 | |a Kopaczynska, Marta | |
245 | 1 | 0 | |a Mikroskopia sił atomowych (AFM)-biomedyczne zastosowanie pomiarow w nanoskali / |c Marta Kopaczynska. |
260 | |a Wrocław : |b Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, |c 2010. | ||
300 | |a 117 p. : |b ill., tabs. | ||
504 | |a Bibliogr.: p. 103-112 | ||
650 | 1 | 4 | |a Atomic force microscopy |
999 | |c 288434 | ||
952 | |o И II/114496 |p FL0176649 |