Intelligence and attainment tests /

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ: Vernon, Philip Ewart
Ձևաչափ: Գիրք
Լեզու:English
Հրապարակվել է: London : University of London Press, [1960].
Խորագրեր:
Educational tests and measurements
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
LEADER 00592cam a22001931 4500
001 000583128
003 AM-YeHGA
005 20210831161243.0
008 770804s1960 xx 000 0 eng d
040 |a AM-YEHGA  |c AM-YeHGA 
041 0 |a eng 
100 1 |a Vernon, Philip Ewart. 
245 1 0 |a Intelligence and attainment tests /  |c Philip Ewart Vernon. 
260 |a London :  |b University of London Press,  |c [1960]. 
300 |a 207 p. :  |b diagrs., tables. ;  |c 23 cm. 
504 |a Bibliogr.: p. [193]-200. 
650 0 |a Educational tests and measurements 
999 |c 237576 
952 |g 7.00  |o Pamb/2657  |p FL0057514 

Նմանատիպ նյութեր