Анализ поверхности методом оже- и рентгеновcкой фотоэлектронной спектроскопии /

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Այլ հեղինակներ: Бриггс, Д. (Խմբագիր, ред.), Сих, М.П (Խմբագիր, ред.), Раховский, В.И (Թարգմանիչ, пер.), Рез, И.С (Թարգմանիչ, пер.)
Ձևաչափ: Գիրք
Լեզու:Russian
Հրապարակվել է: Москва : Мир, 1987.
Խորագրեր:
Поверхностные явления - Спектроскопические исследования
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
LEADER 01175nam a2200265 a 4500
001 000058008
003 AM-YeHGA
005 20230405170426.0
008 030329s1987 ru ||||| |||| 00| 0 rus d
040 |a AM-YEHGA  |c AM-YeHGA 
041 0 |a rus 
245 0 0 |a Анализ поверхности методом оже- и рентгеновcкой фотоэлектронной спектроскопии /  |c Под ред. Д. Бриггса и М.П. Сиха ; Пер. с англ. под ред. В.И. Раховского и И.С. Реза. 
246 1 1 |a Practical Surface Analysis by Auger and X-Ray Photoelectron Spectroscopy 
260 |a Москва :  |b Мир,  |c 1987. 
300 |a 600 с. :  |b ил. 
504 |a Списки лит. в конце гл. 
650 1 4 |a Поверхностные явления - Спектроскопические исследования 
700 1 |a Бриггс, Д.  |e ред.  |4 edt 
700 1 |a Сих, М.П.  |e ред.  |4 edt 
700 1 |a Раховский, В.И.  |e пер.  |4 trl 
700 1 |a Рез, И.С.  |e пер.  |4 trl 
942 |2 udc  |c BK 
999 |c 16830 
952 |o PII/573910  |p FL0101712 
952 |o PII/584537  |p FL0083412 

Նմանատիպ նյութեր