Բեռնվում է…

Автоионная микроскопия : (Принципы и применение) /

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ: Мюллер, Э.
Այլ հեղինակներ: Цонь, Т., Алексеев, В.А (Թարգմանիչ, пер.), Потапов, Л.П (Խմբագիր, ред.)
Ձևաչափ: Գիրք
Լեզու:Russian
English
Հրապարակվել է: Москва : Металлургия, 1972.
Խորագրեր:
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
LEADER 01078nam a2200253 a 4500
001 000054857
003 AM-YeHGA
005 20230405163927.0
008 001101s1972 ru |||||||||||||||||rus d
040 |a AM-YEHGA  |c AM-YeHGA 
041 1 |a rus  |h eng 
100 1 |a Мюллер, Э. 
245 1 0 |a Автоионная микроскопия :  |b (Принципы и применение) /  |c Э. Мюллер, Т. Цонь ; Пер. с англ. В.А. Алексеева и др. ; Под ред. Л.П. Потапова. 
260 |a Москва :  |b Металлургия,  |c 1972. 
300 |a 358 с. :  |b рис. 
504 |a Библиогр. 228 назв. 
534 |p Оригинал на англ. :  |t Field-Ion Microscopy /  |a E.W. Muller, T.T. Tsong -  |c New York : American Elsevier Publishing Company, Inc. : 1969 
650 1 4 |a Электронная микроскопия 
700 1 |a Цонь, Т. 
700 1 |a Алексеев, В.А.  |e пер.  |4 trl 
700 1 |a Потапов, Л.П.  |e ред.  |4 edt 
942 |2 udc  |c BK 
999 |c 15541 
952 |o PII/302462  |p FL0189520