Բեռնվում է…
Автоионная микроскопия : (Принципы и применение) /
Պահպանված է:
Հիմնական հեղինակ: | |
---|---|
Այլ հեղինակներ: | , , |
Ձևաչափ: | Գիրք |
Լեզու: | Russian English |
Հրապարակվել է: |
Москва :
Металлургия,
1972.
|
Խորագրեր: | |
Ցուցիչներ: |
Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|
LEADER | 01078nam a2200253 a 4500 | ||
---|---|---|---|
001 | 000054857 | ||
003 | AM-YeHGA | ||
005 | 20230405163927.0 | ||
008 | 001101s1972 ru |||||||||||||||||rus d | ||
040 | |a AM-YEHGA |c AM-YeHGA | ||
041 | 1 | |a rus |h eng | |
100 | 1 | |a Мюллер, Э. | |
245 | 1 | 0 | |a Автоионная микроскопия : |b (Принципы и применение) / |c Э. Мюллер, Т. Цонь ; Пер. с англ. В.А. Алексеева и др. ; Под ред. Л.П. Потапова. |
260 | |a Москва : |b Металлургия, |c 1972. | ||
300 | |a 358 с. : |b рис. | ||
504 | |a Библиогр. 228 назв. | ||
534 | |p Оригинал на англ. : |t Field-Ion Microscopy / |a E.W. Muller, T.T. Tsong - |c New York : American Elsevier Publishing Company, Inc. : 1969 | ||
650 | 1 | 4 | |a Электронная микроскопия |
700 | 1 | |a Цонь, Т. | |
700 | 1 | |a Алексеев, В.А. |e пер. |4 trl | |
700 | 1 | |a Потапов, Л.П. |e ред. |4 edt | |
942 | |2 udc |c BK | ||
999 | |c 15541 | ||
952 | |o PII/302462 |p FL0189520 |