Բեռնվում է…

Дифрактометрия с использованием синхротронного излучения /

Պահպանված է:
Մատենագիտական մանրամասներ
Համատեղ հեղինակներ: Институт биофизики, Институт химии твердого тела и переработки минерального сырья СО АН СССР, Институт ядерной физики
Այլ հեղինակներ: Болдырев, В.В, Кулипанов, Г.Н (Խմբագիր, ред.)
Ձևաչափ: Գիրք
Լեզու:Russian
Հրապարակվել է: Новосибирск : Наука. Сибирское отделение, 1989.
Խորագրեր:
Ցուցիչներ: Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
LEADER 01278nam a2200253 u 4500
001 000324382
003 AM-YeHGA
005 20210831130840.0
008 040406s1989 ||| r 000 0 rus d
020 |a 5020286907 
040 |a AM-YeHGA  |c AM-YeHGA  
041 0 |a rus 
245 0 0 |a Дифрактометрия с использованием синхротронного излучения /  |c В.В. Болдырев и др. ; Отв. ред. Г.Н. Кулипанов ; ИХТТ СО АН СССР ; ПМС ; ИЯФ. 
260 |a Новосибирск :  |b Наука. Сибирское отделение,  |c 1989. 
300 |a 145 с. :  |b ил. 
504 |a Библиогр. в конце глав. 
650 1 4 |a Рентгенографический анализ кристаллов. Рентгенографическое исследование структуры 
700 1 |a Болдырев, В.В. 
700 1 |a Кулипанов, Г.Н.  |e ред.  |4 edt 
710 2 |a Институт биофизики 
710 2 |a Институт химии твердого тела и переработки минерального сырья СО АН СССР 
710 2 |a Институт ядерной физики 
999 |c 122233 
952 |o 621.384.63.01  |p 120608802