Բեռնվում է…
Неразрушающий контроль параметров тонких проводящих пленок электромагнитными методами /
Պահպանված է:
Հիմնական հեղինակ: | Гаврилин, Валерий Валентинович |
---|---|
Համատեղ հեղինակ: | Физико-энергетический институт Латв. АН |
Ձևաչափ: | Գիրք |
Լեզու: | Russian |
Հրապարակվել է: |
Рига :
Зинатне,
1991.
|
Խորագրեր: | |
Ցուցիչներ: |
Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|
Նմանատիպ նյութեր
-
Кристаллизация тонких пленок /
Հրապարակվել է: (1970) -
Ионно-активированная кристаллизация пленок /
: Лютович, Абрам Срулевич
Հրապարակվել է: (1982) -
Массоперенос в тонких пленках /
: Колешко, Владимир Михайлович
Հրապարակվել է: (1980) -
Технология тонких и толстых пленок для микроэлектроники= : The Engineering of Microelectronic Thin and Thick Films: Пер. с англ. /
: Джоветт, Ч.Е
Հրապարակվել է: (1980) -
Получение и свойства тонких пленок : Сб. науч. тр. /
Հրապարակվել է: (1990)