Тезисы докладов X всесоюзного симпозиума "Методы представления и аппаратурный анализ случайных процессов и полей" : г. Сухуми, март 1978 г. / Всесоюз. науч.-исслед. ин-т электроизмер. приборов.
Material type:
TextLanguage: Russian Publication details: Ленинград : Б. и., 1978-Description: секцияSubject(s): Случайные процессы (мат.), теория - Тезисы докладов
Incomplete contents:
Секция 1 (1978, 112 с.) : Теория погрешностей и метрологическое обеспечение измерений вероятностных характеристик ; Секция 2 (1978, 93 с., ил.) : Средства измерения вероятностных характеристик ; Секция 3 (1978, 96 с., ил.) : Методы представления случайных величин, процессов и полей ; Секция 4 (1978, 79 с., ил.) : Моделирование случайных величин, процессов и полей ; Секция 5 (1978; 148 с., ил.) : Методы и алгоритмы измерения вероятностных характеристик
| Item type | Current library | Collection | Call number | Vol info | Status | Notes | Date due | Barcode |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Գրքեր/Books
|
Fundamental Scientific Library | General | РII/415465 (Browse shelf(Opens below)) | Секция 1 | Available | 30 Days Loan | FL0430548 | |
|
Գրքեր/Books
|
Fundamental Scientific Library | General | PII/410157 (Browse shelf(Opens below)) | Секция 2 | Available | 30 Days Loan | FL0423490 | |
|
Գրքեր/Books
|
Fundamental Scientific Library | General | PII/410158 (Browse shelf(Opens below)) | Секция 3 | Available | 30 Days Loan | FL0423491 | |
|
Գրքեր/Books
|
Fundamental Scientific Library | General | PII/410159 (Browse shelf(Opens below)) | Секция 4 | Available | 30 Days Loan | FL0423492 | |
|
Գրքեր/Books
|
Fundamental Scientific Library | General | PII/410160 (Browse shelf(Opens below)) | Секция 5 | Available | 30 Days Loan | FL0423493 |
Секция 1 (1978, 112 с.) : Теория погрешностей и метрологическое обеспечение измерений вероятностных характеристик ; Секция 2 (1978, 93 с., ил.) : Средства измерения вероятностных характеристик ; Секция 3 (1978, 96 с., ил.) : Методы представления случайных величин, процессов и полей ; Секция 4 (1978, 79 с., ил.) : Моделирование случайных величин, процессов и полей ; Секция 5 (1978; 148 с., ил.) : Методы и алгоритмы измерения вероятностных характеристик
All site content, except where otherwise noted, is licensed under a
There are no comments on this title.