Normal view MARC view ISBD view

Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Д. Майер ; Пер. с англ. В.А. Аркадьева, Л.И. Огнева ; Под ред. В.В. Белошицкого.

By: Фелдман, ЛеонардContributor(s): Майер, Джеймс | Аркадьев, В.А [пер.] | Огнев, Л.И [пер.] | Белошицкий, В.В [ред.]Material type: Text

TextLanguage: Russian Original language: English Publication details: Москва : Мир, 1989Description: 342 с. ; 22 смISBN: 5030010173Subject(s): Пленки тонкие | Поверхностные слои

Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.

Average rating: 0.0 (0 votes)

Holdings ( 2 )
Title notes ( 2 )
Comments ( 0 )

Holdings
Item type	Current library	Collection	Call number	Status	Notes	Date due	Barcode
Գրքեր/Books	Fundamental Scientific Library	General	PII/610579 (Browse shelf(Opens below))	Available	30 Days Loan		120610579
Գրքեր/Books	Fundamental Scientific Library	General	PII/614818 (Browse shelf(Opens below))	Available	30 Days Loan		120614818

Библиогр. в конце глав

Oригинал на англ. : Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis / Leonard C. Feldman, James W. Mayer - New York, Amsterdam, London : North-Holland : 1986

There are no comments on this title.

to post a comment.